電磁兼容測(cè)試儀器-金華電磁兼容測(cè)試-江蘇威闊檢測(cè)(查看)

射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾性試驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

IEC61000 - 4 - 3

EN61000-4-3

GB/T17626.3

試驗(yàn)?zāi)康?/p>

評(píng)定電子通訊設(shè)備或系統(tǒng)受到電磁輻射騷擾時(shí)的性能。

試驗(yàn)設(shè)備

全電波暗室

功率放大器

射頻信號(hào)發(fā)生器

抗擾度天線

場(chǎng)強(qiáng)探頭

配套計(jì)算機(jī)及軟件

試驗(yàn)等級(jí)（嚴(yán)酷度等級(jí)）

干擾電場(chǎng)強(qiáng)度的波形 (1kHz正弦波80%調(diào)幅 )

均勻域校準(zhǔn)

試驗(yàn)的實(shí)施

用1kHz的正弦波對(duì)信號(hào)進(jìn)行80％的幅度調(diào)制后， 在80～1000MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行掃頻測(cè)量，掃描步長(zhǎng)為前一頻率的1 ％，這一部分都通過(guò)計(jì)算機(jī)及軟件控制實(shí)現(xiàn)；

每一頻點(diǎn)上掃描停留時(shí)間不應(yīng)短于受試設(shè)備操作和反應(yīng)所需的時(shí)間，一般設(shè)為1-3秒鐘，電磁兼容測(cè)試儀器，如果對(duì)產(chǎn)品有特別要求，可以延長(zhǎng)停留時(shí)間；

受試設(shè)備應(yīng)在發(fā)射天線的水平和垂直極化下進(jìn)行試驗(yàn) 。

試驗(yàn)結(jié)果判定

對(duì)于情形a，判為合格。

對(duì)于情 形b、c、d，電磁兼容測(cè)試費(fèi)用，判為不合格。

傳導(dǎo)騷擾電壓

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

GB/T 24338. 4

GB/T 24338. 5

GB 4824

試驗(yàn)?zāi)康?/p>

控制設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)和控制端口傳導(dǎo)騷擾干擾信號(hào)。

傳導(dǎo)發(fā)射試驗(yàn)設(shè)備

屏蔽室

EMI接收機(jī)

人工電源網(wǎng)絡(luò)（AMN 、LISN ）

線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（ISN）

瞬態(tài)限幅器

電流探頭

傳導(dǎo)騷擾測(cè)量連接圖

試驗(yàn)原理

傳導(dǎo)騷擾限值

傳導(dǎo)騷擾測(cè)量布置圖

傳導(dǎo)騷擾測(cè)量結(jié)果

輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng)

設(shè)備端口

電場(chǎng)天線

磁場(chǎng)天線

根據(jù)麥克斯韋方程，金華電磁兼容測(cè)試，變化電場(chǎng)產(chǎn)生變化磁場(chǎng)，變化磁場(chǎng)產(chǎn)生變化電場(chǎng)。

設(shè)備內(nèi)每個(gè)電路都可能是等效磁場(chǎng)天線，機(jī)殼和電纜都可能是等效電場(chǎng)天線的一部分。

輻射騷擾測(cè)量范圍

30MHz～18GHz，測(cè)量電場(chǎng)（E）

1GHz以下，開(kāi)闊場(chǎng)地或半電波暗室，電磁兼容測(cè)試規(guī)范，半自由空間。

1GHz以上 全電波暗室，模擬自由空間。

9KHz ～30MHz，測(cè)量磁場(chǎng)（ H ）

EUT較小，放在大磁環(huán)天線（LLA）中，測(cè)量騷擾磁場(chǎng)的感應(yīng)電流。

EUT較大，采用遠(yuǎn)天線法，用單小環(huán)在規(guī)定距離測(cè)量騷擾的磁場(chǎng)強(qiáng)度。

測(cè)量場(chǎng)所‐開(kāi)闊場(chǎng)地

測(cè)量場(chǎng)所‐半電波暗室

輻射騷擾測(cè)量天線

輻射騷擾測(cè)量設(shè)備

9kHz‐30MHZ輻射騷擾測(cè)量

30‐1000MHz輻射騷擾測(cè)量

1‐18GHz輻射騷擾測(cè)量

30‐1000MHz輻射騷擾測(cè)量

輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng)計(jì)算

F (天線因子) = E/U

用dB值表示為F(dB) = E(dB) – U(dB)    E(dB) = U(dB) + F(dB)

被測(cè)場(chǎng)強(qiáng)E(dB) = 測(cè)量接收機(jī)讀數(shù)U(dB) + 天線系數(shù)F(dB) + 電纜損耗L(dB)

L2 （dB）＝ L1 （dB）+ 20lg（d1/d2）

式中L1和 L2分別為測(cè)試距離為d1 和d2時(shí)的輻射限值

待測(cè)物工作狀態(tài)遵循原則

EUT應(yīng)按設(shè)計(jì)要求在額定（標(biāo)稱）工作電壓和負(fù)載條件（機(jī)械性能和電氣性能）下 運(yùn)行。應(yīng)盡可能使用實(shí)際負(fù)載；

試驗(yàn)程序應(yīng)確保ITE（設(shè)備或系統(tǒng)）中的各個(gè)組成部分能夠運(yùn)行。

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