膜厚儀EDX-8000T 型XRF鍍層測厚儀/電鍍液分析儀
Simply The Best
>垂直光路設計,專為鍍層厚度分析而設計
>高分辨率硅針檢測器 (Si-pin) ,適合于多元素鍍層的高靈敏度分析,比起傳統(tǒng)的封氣正比計數(shù)器,Si-pin探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲(高 S/N 比)長期穩(wěn)定性以及更長的使用壽命
>工業(yè)級高清樣品觀測系統(tǒng),點位測量功能有助于提高測量精度
>易于使用,新型用戶界面專為非XRF用戶設計。直觀而整潔,只需點擊鼠標即可進行正確的分析
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