x射線發(fā)生裝置解決哪些問題?
(1)當材料由多種結晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結晶相的比例。
(2)很多材料的性能由結晶程度決定,可使用XRD結晶度分析,確定材料的結晶程度。
(3)新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),中能x射線發(fā)生裝置,使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù),為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。
(4)產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應力。
(5)納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
x射線發(fā)生裝置結構
主要包括三部分:X射線光管、測角儀和檢測器。采用應用廣泛的Cu靶作為X射線源,配備PIXcel高能檢測器,此檢測器為固態(tài)探測器由65000個像素組成,每個像素的尺寸為55×55微米,每個像素都有獨立電路,具有快速讀出時間和較高的動態(tài)范圍:每像素行每秒超過1300萬次計數(shù)。此外儀器光路系統(tǒng)配備索拉狹縫、防散射狹縫、面罩、單色器等,中能x射線發(fā)生裝置多少錢,以使X射線源發(fā)射X射線光以單色光源照射樣品,而樣品產(chǎn)生的衍射光以平行光束達到檢測器。
x射線發(fā)生裝置的應用
1、金屬,鑄造廠、冶煉廠和鋼廠還有金屬行業(yè)的其他方面都是連續(xù)生產(chǎn)并要求日夜控制生產(chǎn)和進料出料的質(zhì)量。合金的化學含量,殘余應力是與結構失效相關的重要特征。具有的空間分辨率和測量硬化材料的能力提供了非接觸式測量。
2、涂層,現(xiàn)代生活的每個環(huán)節(jié)都得益于涂層或薄膜技術。無論是集成電路芯片上的阻擋層薄膜還是鋁制飲料罐上的涂層,X射線是研發(fā),產(chǎn)品過程控制和質(zhì)量不可缺少的分析技術。
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